濟(jì)南潤之科技有限公司激光粒度儀相關(guān)基礎(chǔ)小知識
樣品池
樣品池是用來分散樣品的器件。
控制面板
系統(tǒng)中超聲時(shí)間、攪拌速度、循環(huán)速度和排液等參數(shù)都由軟件控制面板來控制,其中超聲時(shí)間、攪拌速度和循環(huán)速度都是連續(xù)調(diào)節(jié),設(shè)置數(shù)字顯示。
攪拌器
攪拌器是用來均化的器件,攪拌速度通過控制面板連續(xù)可調(diào),設(shè)置數(shù)字顯示。
攪拌支撐臂
支撐臂是支撐攪拌的器件,在加入液體時(shí)需要把支撐臂抬起。
頂蓋
頂蓋是樣品池和支撐臂上的蓋子。
導(dǎo)軌
支撐整個(gè)光路系統(tǒng)的構(gòu)架,整個(gè)導(dǎo)軌為一體結(jié)構(gòu),不變形。
樣品窗
是檢測樣品的窗口,只有流經(jīng)樣品窗的顆粒才會被檢測,樣品窗內(nèi)外必須保持潔凈。
探測器陣列
是非均勻交叉三維扇形距陣陣列,能夠很好的分辨測量范圍內(nèi)的顆粒粒度分布。
高速數(shù)據(jù)線
數(shù)據(jù)線是儀器和計(jì)算機(jī)通訊的電纜線。
通訊口
通訊口是儀器的連接接口,采用三口的航空插頭。
基準(zhǔn)
又稱為背景,是動態(tài)測量的基礎(chǔ)。
分散劑
又稱表面活性劑,是解決顆粒與介質(zhì)表面浸潤問題的試劑,它的加入不影響顆粒的粒度。常用的有:焦磷酸鈉、六偏磷酸鈉等。
分散介質(zhì)
分散介質(zhì)是顆粒用來分散的介質(zhì),常用的有:水(蒸餾水)、乙醇和溶劑油等。
表面活性劑
又稱分散劑,見分散劑。
超聲分散
超聲系統(tǒng)*的特性,能夠分散一些團(tuán)聚的顆粒,超聲分散不改變顆粒的粒度,只是把團(tuán)聚的顆粒分散開,這種分散在學(xué)術(shù)上稱為空化。
均化
就是均勻化,是指把顆粒均勻的分散到分散介質(zhì)中,避免顆粒一縷縷或一團(tuán)團(tuán)的經(jīng)過樣品窗。
動態(tài)測量
動態(tài)測量是把動態(tài)采集到的結(jié)果,經(jīng)過計(jì)算機(jī)迅速處理,并顯示到計(jì)算機(jī)屏幕上。
隨機(jī)存儲
動態(tài)顯示的結(jié)果只是瞬間駐留在內(nèi)存中,并沒有保存到文件中,隨機(jī)存儲就是點(diǎn)一下按鍵,保存一個(gè)動態(tài)結(jié)果。
定時(shí)存儲
定時(shí)存儲是設(shè)定一個(gè)間隔時(shí)間,軟件會按照間隔時(shí)間將記錄保存到文件中。
數(shù)據(jù)表
數(shù)據(jù)表是將粒徑點(diǎn)、微分百分含量和累積百分含量,以表格的形式顯示。在改變粒徑結(jié)點(diǎn)的情況下可以顯示成多種形式:對數(shù)方圖粒度分布、自定義粒度分布、R-R分布和篩分分布。
粒度分布圖
數(shù)據(jù)表是將粒徑點(diǎn)、微分百分含量和累積百分含量,以圖形的形式顯示,可以直觀的看出顆粒的粒度分布圖形及規(guī)律。
R-R分布
R-R分布是一種統(tǒng)計(jì)規(guī)律的分布形式。
標(biāo)準(zhǔn)分布
標(biāo)準(zhǔn)分布是按照軟件和硬件的自然設(shè)置,得出的顆粒的粒度分布。標(biāo)準(zhǔn)分布的粒徑點(diǎn)是使用系統(tǒng)默認(rèn)的130個(gè)粒度分級。
自定義分級分布
自定義分級分布和標(biāo)準(zhǔn)分布主要區(qū)別是粒徑點(diǎn)的不同,自定義分級,就是自定義粒徑點(diǎn)。
篩分分布
篩分分布是按照篩分標(biāo)準(zhǔn)中目和微米的對應(yīng)關(guān)系,求去與篩網(wǎng)對應(yīng)的篩余物的百分比,一般的篩余百分比對應(yīng)粒度分布中D97。
對數(shù)方圖
對數(shù)方圖的形式相當(dāng)于函數(shù)中的分段函數(shù), 求出函數(shù)中任何點(diǎn)的百分比是不可能的,采用合理的多次插值方法,能夠得到連續(xù)的粒度分布曲線,更加合理的描述粒度分布。
目
目是篩分中的單位,目和微米的對應(yīng)關(guān)系見下表。
顆粒折射率
顆粒折射率是指顆粒對光的發(fā)散和吸收的現(xiàn)象。實(shí)部對應(yīng)發(fā)散,虛部對應(yīng)吸收,請參閱顆粒折射率表
介質(zhì)折射率
介質(zhì)折射率是光在介質(zhì)中傳播的速度和在真空中傳播速度的比值,請參閱介質(zhì)折射率表。
用戶及密碼
用戶可以自己設(shè)置登陸的用戶名和密碼,如果刪除全部密碼可以不用輸入用戶名而登陸,請參閱用戶及密碼。
自定義累積粒徑點(diǎn)
需要統(tǒng)計(jì)的累積粒徑點(diǎn),可以在軟件中更改并保存。
自定義累積百分比點(diǎn)
需要統(tǒng)計(jì)的自定義百分比點(diǎn),一般設(shè)置為D3和D97,因?yàn)槎鄶?shù)情況下用這兩個(gè)點(diǎn)來表示小和大顆粒。
D50、D10、D90
D50:表示粒度分布中占50%所對應(yīng)的粒徑,又稱中位徑
D10:表示粒度分布中占10%所對應(yīng)的粒徑
D90:表示粒度分布中占90%所對應(yīng)的粒徑
Dav、S/V
Dav:表示粒度分布的平均粒徑
S/V:比表面積,系統(tǒng)可以選擇體積比表面積或重量比表面積。
擬合系數(shù)
指顆粒群的中位徑與平均粒徑的比值,表示顆粒群的粒徑分布與正態(tài)分布的偏離程度。
標(biāo)稱值、平均值
每種標(biāo)準(zhǔn)樣都有一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的經(jīng)過認(rèn)可的粒徑,稱為標(biāo)稱值。
多次測量結(jié)果求平均后的結(jié)果,稱為平均值。
標(biāo)準(zhǔn)偏差
統(tǒng)計(jì)學(xué)的概念,幾次測量結(jié)果在平均值左右的偏移程度,表示測量結(jié)果的準(zhǔn)確性和重復(fù)性。